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引き合い
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SN74ABT8652DW

引き合い

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規格
  • 部品型番
    SN74ABT8652DW
  • メーカー/ブランド
  • 在庫数量
    在庫あり
  • 説明
    IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
  • フリーステータス/ RoHS状態
    鉛フリー/ RoHS準拠
  • ECADモデル
  • 供給電圧
    4.5 V ~ 5.5 V
  • サプライヤデバイスパッケージ
    28-SOIC
  • シリーズ
    74ABT
  • パッケージング
    Tube
  • パッケージ/ケース
    28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • 他の名前
    296-33634-5
    SN74ABT8652DW-ND
    SN74ABT8652DWE4
    SN74ABT8652DWE4-ND
    SN74ABT8652DWG4
    SN74ABT8652DWG4-ND
  • 運転温度
    -40°C ~ 85°C
  • ビット数
    8
  • 装着タイプ
    Surface Mount
  • 水分感受性レベル(MSL)
    1 (Unlimited)
  • メーカーの標準リードタイム
    6 Weeks
  • 論理タイプ
    Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
  • 鉛フリーステータス/ RoHSステータス
    Lead free / RoHS Compliant
  • 詳細な説明
    Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SOIC
  • ベース部品番号
    74ABT8652
SN74ABT8646DWRG4

SN74ABT8646DWRG4

説明: IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
SN74ABT8952DLR

SN74ABT8952DLR

説明: IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
SN74ABT8952DL

SN74ABT8952DL

説明: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
SN74ABT8652DLRG4

SN74ABT8652DLRG4

説明: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
SN74ABT8952DW

SN74ABT8952DW

説明: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
SN74ABT8646DWRE4

SN74ABT8646DWRE4

説明: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
SN74ABT8646DW

SN74ABT8646DW

説明: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
SN74ABT8646DLR

SN74ABT8646DLR

説明: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
SN74ABT8996DWR

SN74ABT8996DWR

説明: IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24-SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
SN74ABT8652DWRG4

SN74ABT8652DWRG4

説明: IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
SN74ABT8652DLR

SN74ABT8652DLR

説明: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74ABT8646DWR

SN74ABT8646DWR

説明: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74ABT8996DW

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説明: IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24-SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74ABT8652DWR

SN74ABT8652DWR

説明: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74ABT8652DL

SN74ABT8652DL

説明: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74ABT8952DWR

SN74ABT8952DWR

説明: IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74ABT8952DLRG4

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説明: IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74ABT8646DLG4

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説明: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74ABT8652DLG4

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説明: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74ABT8652DWRE4

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説明: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
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